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GB/T2423.21-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法》是用于電工電子產(chǎn)品低氣壓試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，包括了測(cè)試目的、試驗(yàn)裝置、試驗(yàn)方法、試驗(yàn)程序、試驗(yàn)要求等內(nèi)容。具體來(lái)說(shuō)，...
GJB 367.2-1987《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗(yàn)方法》是針對(duì)軍用通信設(shè)備進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)，旨在評(píng)估設(shè)備在不同環(huán)境條件下的可靠性和穩(wěn)定性。一、范圍：1. 本標(biāo)準(zhǔn)所給出的試驗(yàn)方法均為人工...
GJB367A-2001是中國(guó)軍用通信設(shè)備的通用規(guī)范，規(guī)范了軍用通信設(shè)備的基本技術(shù)要求、性能指標(biāo)、測(cè)試方法、質(zhì)量評(píng)定以及使用和維護(hù)等方面的內(nèi)容。該規(guī)范適用于軍用通信設(shè)備的研制、生產(chǎn)、檢驗(yàn)和使用，包括通...
《GB/T 12085.5-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，屬于《GB/T 12085 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法》系列標(biāo)準(zhǔn)的第5部分。該標(biāo)準(zhǔn)...
《GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，屬于《GB/T 2423 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》系...
《GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M：低氣壓》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，屬于《GB/T 2423 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》系列標(biāo)準(zhǔn)的第2部分，主要規(guī)定了電工電子產(chǎn)...
《GB/T 2423.27-2020 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)方法和導(dǎo)則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗(yàn)》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，屬于《GB/T 2423 環(huán)境試驗(yàn)》系列標(biāo)準(zhǔn)的第2部分，主...
GB/T 2423.63-2019標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在低溫、高溫和低氣壓環(huán)境下進(jìn)行振動(dòng)綜合試驗(yàn)的方法，主要包括試驗(yàn)?zāi)康?、試?yàn)條件、試驗(yàn)設(shè)備、試驗(yàn)過(guò)程、試驗(yàn)結(jié)果評(píng)定等內(nèi)容。其中，試驗(yàn)條件包括試驗(yàn)溫度、低氣壓、振...
