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《GB/T2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:低氣壓試驗方法》標準

時間:2023-03-29 09:31:01 作者:環(huán)儀小編 點擊:

GB/T2423.21-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:低氣壓試驗方法》是用于電工電子產(chǎn)品低氣壓試驗的標準規(guī)范,包括了測試目的、試驗裝置、試驗方法、試驗程序、試驗要求等內容。

具體來說,該標準規(guī)定了低氣壓試驗所需的試驗設備,包括低氣壓試驗箱、真空泵、氣壓計等,并對試驗條件進行了明確,如試驗溫度、相對濕度和氣壓等參數(shù)。


一、范圍:
本標準規(guī)定了電工電子產(chǎn)品低氣壓試驗方法的嚴酷等級、預處理、初始測量、條件試驗、恢復和最后測量。
本標準適用于室溫條件下的低氣壓試驗。主要用來確定元件、設備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運輸或使用的適應性。
注:對于貯存、運輸或使用條件下的產(chǎn)品,當高蠢和低氣壓或低溫和低氣壓綜合影響施于產(chǎn)品上的應力或在此應力作用下的失效機理是十分重要時,則應按下列標準進行試驗:GB 2423.25以及GB 2423.26。


二、試驗設備:
低氣壓試驗箱

《GB/T2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:低氣壓試驗方法》標準(圖1)


三、試驗要求:

1. 試驗箱(室)溫度應在規(guī)定的試驗標準大氣條件溫度范圍內,對非工作性試驗、試驗樣品應是在不包裝、不通電、“準備使用”狀態(tài),按其正常位置(除非另有規(guī)定)放入試驗箱(室)內。


2. 將試驗箱(室)內的氣壓降低到符合規(guī)定嚴酷等級的值,壓力變化速度為不大于10kPa/min,或按有關標準的規(guī)定。


3. 進行工作性試驗時,試驗樣品應通電或加電氣負荷,應檢查確定試驗樣品是否能滿足有關標準規(guī)定的功能,試驗樣品可按規(guī)定的持續(xù)時間保持在運行狀態(tài),或是按有關標準中的要求斷開電源。

若有關標準要求中間測量時,則應進行中間測量。

在試驗方法方面,該標準規(guī)定了試驗過程和試驗要求,如試驗時間、試驗后的樣品狀態(tài)評定和試驗結果的處理等。

對散熱試驗樣品,有關規(guī)范可要求對試驗樣品通電,并在降低氣壓以前或以后,使其有足夠的時間達到穩(wěn)定,及進行功能試驗和(或)測量。


4. 氣壓應按規(guī)定的持續(xù)時間予以保持。


5.使氣壓恢復到常態(tài),若有關標準有要求時,氣壓變化的速度應不超過10 kPa/min。


標簽: 檢測標準 測試標準

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