《GB/T 2423.21-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗M:低氣壓》是中國國家標準,屬于《GB/T 2423 電工電子產品環(huán)境試驗》系列標準的第2部分,主要規(guī)定了電工電子產品在低氣壓環(huán)境下的試驗方法和評定標準。
該標準適用于電工電子產品的低氣壓環(huán)境試驗,旨在通過模擬產品在高海拔地區(qū)或高空航行等低氣壓環(huán)境下的使用情況,評估產品的適應性和可靠性,提高產品的質量和可靠性。
一、范圍:
本部分適用于室溫條件下的低氣壓試驗。
本試驗的目的是用于確定元件、設備或其他產品在低氣壓條件下貯存,運輸或使用的適應性。注:在高溫和低氣壓綜合或低溫和低氣壓綜合環(huán)境下貯存、運輸或使用的產品,這種綜合環(huán)境對于施加于產品上的應力或失效機理的影響是十分重要的,應按下列標準進行試驗:
1.GB/T 2423.25電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法︰試驗Z/AM;低溫/低氣壓綜合試驗
2.GB/T 2423.26電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法,試驗Z/BM;高溫/低氣壓綜合試驗
二、試驗設備:
高低溫低氣壓試驗箱
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三、部分試驗條件:
1. 試驗箱(室)內的溫度應在規(guī)定的試驗標準大氣條件溫度范圍內。
當不要求樣品在運行狀態(tài)下進行試驗時,樣品應在不包裝、不通電、“準備使用"狀態(tài),按其正常位置(除非另有規(guī)定)放入試驗箱(室)內。
2. 將試驗箱(室)內的氣壓降低到符合規(guī)定嚴酷等級的值,如有需要,相關規(guī)范可規(guī)定氣壓變化速度不大于10 kPa/ min。
3. 當要求樣品在運行狀態(tài)下進行試驗時,樣品應通電或加電氣負載,應檢查確定試驗樣品是否能滿足相關規(guī)范規(guī)定的功能。試驗樣品可按規(guī)定的持續(xù)時間保持在運行狀態(tài),或是按相關規(guī)范的要求斷開電源。
根據產品的設計要求和使用要求,對試驗結果進行評定,判斷產品是否符合要求。評定結果應做好記錄,并及時反饋給產品設計、生產和使用部門。
該標準的實施有助于提高電工電子產品在低氣壓環(huán)境下的可靠性和適應性,促進電工電子產品行業(yè)的發(fā)展和進步。








