一、產(chǎn)品簡介：
常溫BIT測試?yán)匣?/span>是用于固態(tài)硬盤（SSD）常溫讀寫測試（BurnInTest，BIT）的試驗(yàn)設(shè)備，老化柜可以提供固態(tài)硬盤運(yùn)行所需要的穩(wěn)定溫度，為BIT測試提供保障。
.jpg "編輯 | 環(huán)儀儀器 一、產(chǎn)品簡介： 常溫BIT測試?yán)匣袷怯糜诠虘B(tài)硬盤（SSD）常溫讀寫測試（BurnInTest，BIT）的試驗(yàn)設(shè)備，老化柜可以提供固態(tài)硬盤運(yùn)行所需要的穩(wěn)定溫度，為BIT測試提供保障。 二、滿足標(biāo)準(zhǔn)： YD/T 3824-2021 面向互聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用的固態(tài)硬盤測試規(guī)范 JEDEC 218 三、技術(shù)參數(shù)： 四、產(chǎn)品特點(diǎn)： 1、根據(jù)不同的要求提供測試電腦配置。 2、機(jī)柜(圖1)")
二、滿足標(biāo)準(zhǔn)：
YD/T 3824-2021 面向互聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用的固態(tài)硬盤測試規(guī)范
JEDEC 218
三、技術(shù)參數(shù)：
.jpg "編輯 | 環(huán)儀儀器 一、產(chǎn)品簡介： 常溫BIT測試?yán)匣袷怯糜诠虘B(tài)硬盤（SSD）常溫讀寫測試（BurnInTest，BIT）的試驗(yàn)設(shè)備，老化柜可以提供固態(tài)硬盤運(yùn)行所需要的穩(wěn)定溫度，為BIT測試提供保障。 二、滿足標(biāo)準(zhǔn)： YD/T 3824-2021 面向互聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用的固態(tài)硬盤測試規(guī)范 JEDEC 218 三、技術(shù)參數(shù)： 四、產(chǎn)品特點(diǎn)： 1、根據(jù)不同的要求提供測試電腦配置。 2、機(jī)柜(圖2)")
四、產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、根據(jù)不同的要求提供測試電腦配置。
2、機(jī)柜采用1.0冷軋鋼板，外部烤漆處理，堅(jiān)實(shí)耐用，美觀大方。
3、每層電腦采用抽屜式擺放，方便電腦散熱和后期維護(hù)。
4、機(jī)柜頂部配有220V散熱風(fēng)扇，背板為高密度六角單開網(wǎng)孔門，通風(fēng)率≥75%，門和側(cè)板為可拆卸式結(jié)構(gòu)，保證測試電腦運(yùn)行環(huán)境良好。
5、機(jī)柜底部有萬向輪和固定腳杯，方便移動設(shè)備。
.jpg "編輯 | 環(huán)儀儀器 一、產(chǎn)品簡介： 常溫BIT測試?yán)匣袷怯糜诠虘B(tài)硬盤（SSD）常溫讀寫測試（BurnInTest，BIT）的試驗(yàn)設(shè)備，老化柜可以提供固態(tài)硬盤運(yùn)行所需要的穩(wěn)定溫度，為BIT測試提供保障。 二、滿足標(biāo)準(zhǔn)： YD/T 3824-2021 面向互聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用的固態(tài)硬盤測試規(guī)范 JEDEC 218 三、技術(shù)參數(shù)： 四、產(chǎn)品特點(diǎn)： 1、根據(jù)不同的要求提供測試電腦配置。 2、機(jī)柜(圖3)")
五、測試要求：
SSD測試在實(shí)驗(yàn)室常溫40℃的環(huán)境下進(jìn)行的BIT測試，根據(jù)JEDEC 218的要求，整個(gè)測試過程所需要的測試時(shí)長為1000h，在剛啟動開始測試時(shí)，BMC通過MI協(xié)議獲取的SSD的NAND溫度值為40℃左右，當(dāng)測試時(shí)長達(dá)到1000小時(shí)，NVME SSD就完成了在常溫環(huán)境下進(jìn)行BIT的測試。
