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目前,IC芯片、LED芯片等智能存儲芯片在出廠檢測時需要進行極端環(huán)境下的可靠性測試,以測試確定芯片失效時所處的溫差區(qū)間。這些測試需要使用冷熱沖擊試驗熱流儀,下面
冷熱沖擊試驗熱流儀可進行溫度沖擊試驗測試,能提供精確的設(shè)置要求,可用于研究電子元件的熱阻,還可對電子元件進行溫度循環(huán)和熱沖擊試驗??勺鳛殡娮釉筒牧媳碚鞯姆椒?/p>
高低溫?zé)崃鲀x是一種快速、控溫精確的高低溫沖擊系統(tǒng),溫控范圍從-80C到+225℃,適用于各種應(yīng)用。高低溫?zé)崃鲀x可對對電子元件和材料進行熱試驗和表征,進而提高它們