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JESD22偏壓雙85濕熱試驗機(jī)適用于半導(dǎo)體、芯片、光電產(chǎn)品的高溫高濕試驗，在半導(dǎo)體行業(yè)則需要做偏壓濕熱試驗，偏壓濕熱試驗屬于老化試驗的一種，老化測試（Burn
根據(jù)國際半導(dǎo)體標(biāo)準(zhǔn)化組織（JEDEC）的要求，半導(dǎo)體設(shè)計和制造企業(yè)可以自行評估旗下產(chǎn)品的可靠性，偏壓高溫高濕試驗則是其中一項重要試驗項目，偏壓高溫高濕試模擬了“
半導(dǎo)體行業(yè)偏壓濕熱試驗箱的設(shè)計，符合實驗條件模擬了“85/85”穩(wěn)態(tài)濕度壽命試驗(JESD22-A101)的失效機(jī)理，即在讓元件長時間承受電氣性stress高溫
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