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JESD22-A103高溫儲存試驗箱是半導(dǎo)體、光電、LED等領(lǐng)域必備的測試設(shè)備，用于測試和確定產(chǎn)品在高溫加速老化試驗過程仲產(chǎn)品的特性，高溫儲存試驗箱屬模擬氣候環(huán)
JESD22偏壓雙85濕熱試驗機(jī)適用于半導(dǎo)體、芯片、光電產(chǎn)品的高溫高濕試驗，在半導(dǎo)體行業(yè)則需要做偏壓濕熱試驗，偏壓濕熱試驗屬于老化試驗的一種，老化測試（Burn
根據(jù)國際半導(dǎo)體標(biāo)準(zhǔn)化組織（JEDEC）的要求，半導(dǎo)體設(shè)計和制造企業(yè)可以自行評估旗下產(chǎn)品的可靠性，偏壓高溫高濕試驗則是其中一項重要試驗項目，偏壓高溫高濕試模擬了“
半導(dǎo)體行業(yè)偏壓濕熱試驗箱的設(shè)計，符合實驗條件模擬了“85/85”穩(wěn)態(tài)濕度壽命試驗(JESD22-A101)的失效機(jī)理，即在讓元件長時間承受電氣性stress高溫
以往半導(dǎo)體廠商依據(jù)ICE標(biāo)準(zhǔn)（85%rh相對濕度85℃熱環(huán)境）對半導(dǎo)體元件進(jìn)行長時間（＞1000hrs）靜態(tài)老化，使其失效周期加速顯現(xiàn)。JESD22-A110高
隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展。半導(dǎo)體元器件作為組成各種電子電路的核心元件，不斷應(yīng)用于各種嚴(yán)酷惡劣的環(huán)境。為了模擬更嚴(yán)酷的條件來縮短測試周期和即時的電氣特性跟蹤監(jiān)控的方
JESD22高加速應(yīng)力試驗箱用于評估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設(shè)備）在高溫高濕條件下的運行可靠性，對芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進(jìn)行溫濕度偏壓（不偏壓）高加速應(yīng)力壽
高壓蒸煮高溫高濕試驗箱用于產(chǎn)品作加速壽命試驗，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，測試其制品的耐厭性、氣密性。下面，我們來了解一下高壓蒸煮
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